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四波剪切干涉技術原理：
剪切干涉技術基本原理是將待檢測的激光波前分成兩束，其中的一束相對于另一束橫向產(chǎn)生一些錯位，兩束錯位的光波各自保持完整的待測波前信息，相互疊合后，產(chǎn)生干涉現(xiàn)象，CCD/CMOS相機會接收干涉圖樣，進行相應的計算分析，從而利用傅立葉變換的相關計算，分析出待測波前的相位分布，以及強度分布等。基于干涉條紋的疏密度敏感于波前的斜率，因此波前傳感器在探測波前的偏離范圍較傳統(tǒng)的哈特曼傳感器具有更大的優(yōu)越性。
波前傳感器的典型應用
光在傳輸?shù)倪^程中會經(jīng)過不同的介質(zhì)，不同的介質(zhì)由于其構成物質(zhì)的分布不均勻，從而導致光的波前產(chǎn)生各種各樣的變化，自適應系統(tǒng)便應運而生。作為自適應系統(tǒng)中重要的一環(huán)，波前傳感器的檢測精度，動態(tài)范圍等等因素，都制約著自適應系統(tǒng)最終的調(diào)制結果。由于剪切干涉波前分析儀具有分辨率高，探測精度高，探測速度快，操作簡便，可直接的三維顯示波前畸變的模式等優(yōu)點，目前已經(jīng)得到了廣泛的使用。
1、自適應光學系統(tǒng)實時波前探測
在自適應光學系統(tǒng)中利用Phasics波前傳感器檢測到準確的波前畸變信息，反饋給波前校正系統(tǒng)以補償待測波前的畸變，從而可有效的降低湍流應的影響，補償大氣湍流引起的光波相位擾動。
2、激光光束性能、波前像差、M^2、強度等的檢測
激光光束質(zhì)量是激光器的一個重要的技術指標參數(shù)，主要是指光束在傳播中橫截面的場強分布及變化，主要的參量包括：光束直徑，傳播模式，遠場發(fā)散角，光斑方向漂移等。研究波前相位的畸變是分析激光裝置中腔鏡變形的主要依據(jù)，提高波前性能是提高光束質(zhì)量的重要手段。
波前分析儀可以用于激光波前的檢測，同時可以得到激光的光強分布和其他的激光光束質(zhì)量參數(shù)，為同時檢測激光波前和光束質(zhì)量提供了一種高精度，高靈敏度，實時3D顯示，簡便可行的新方法。
3、精密光學元器件檢測
隨著科技的進步，人們對精密光學元器件的生產(chǎn)技術指標要求越來越高，波前探測器能給精密的對光學元器件進行檢測，實時得到準確的監(jiān)測數(shù)據(jù)，對于精密光學元器件的生產(chǎn)無疑產(chǎn)生了一場新的技術革命。相對于傳統(tǒng)的干涉儀檢測光學元器件的波前，Phasics波前分析儀更適合像差、球差較大的非球面透鏡的檢測。波前分析儀具有無需標準件，體積小，精度高，數(shù)值孔徑大(可達0.75)，等優(yōu)點。
4、激光等離子體檢測分析
基于波前分析的四波剪切干涉技術，可實時檢測激光產(chǎn)生的等離子體的電子密度、模式及傳播方式。可實時的監(jiān)測等離子體的產(chǎn)生、擴散過程，以及等離子體的品質(zhì)因數(shù)。可以更好地為客戶在噴嘴設計、激光脈沖的照度、氣壓、均勻性等方面提供優(yōu)化的數(shù)據(jù)支持。
除此之外，波前分析儀還被廣泛的應用于紅外、近紅外探測;平行光管/望遠鏡系統(tǒng)的檢測與裝調(diào);衛(wèi)星遙感成像、生物成像、熱成像領域;球面、非球面光學元器件檢測 (平面, 球面, 透鏡);虹膜定位像差引導;大口徑高精度光學元器件檢測;激光通信領域;航空航天等領域。
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